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IC卡芯片檢測設備

更新時間:2023-01-11
廠商性質:生產廠家
訪問次數:2516

簡要描述:IC卡(ka)(ka)芯片(pian)檢測(ce)設(she)備適用(yong)于軌道交(jiao)通卡(ka)(ka)、銀行磁卡(ka)(ka)、醫(yi)療保險卡(ka)(ka)、智能卡(ka)(ka)、地鐵(tie)卡(ka)(ka)、通訊(xun)卡(ka)(ka)、公(gong)交(jiao)卡(ka)(ka)、會(hui)員卡(ka)(ka)等系列磁卡(ka)(ka)的反(fan)復彎曲扭轉試(shi)(shi)驗,三輪測(ce)試(shi)(shi),點(dian)壓力(li)測(ce)試(shi)(shi)試(shi)(shi)驗。

  一、IC卡芯片檢測設備/銀聯卡芯片檢測儀器用途:
 
  我公司生產、研發和銷售物理力學性能試驗設備,公司生產的力學試驗機系列產品廣泛應用于各種行業做理化檢測之用。是研發、設計、制造的IC卡動態反復彎曲扭轉試驗機生產廠家。本產品適用于軌道交通卡、銀行磁卡、醫療保險卡、智能卡、地鐵卡、通訊卡、公交卡、會員卡等系列磁卡的反復彎曲扭轉試驗,主要用于大專院校、科研單位、質量檢測中心、企業單位品質檢測部門、實驗室等磁卡的物理力學性能、工藝性能的測試和分板研究,深受廣大用戶青睞。
 
  二、IC卡芯片檢測設備/銀聯卡芯片檢測儀器介紹:
 
  該儀器主要用于測試IC卡的彎曲、扭矩試驗,符合國標GB/T 16649.1,國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998等試驗標準。該試驗機工位為15工位,其中5工位為長邊彎曲,5工位為短邊彎曲,5工位為扭曲試驗。將計數次數增加到9999次,計數方法采用非接處光電計數(傳統采用開關量計數),將故障率幾乎降為0,彎曲量和扭轉角度任意可調。
 
  三、技術參數:
 
  1.測試速度:彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
 
  2.測試周期:1~9999次
 
  3.扭曲度 :±15°±1° 雙向d=86 mm
 
  4.正反向各15°,總扭曲角度30°
 
  5.夾具安裝尺寸*按照國家標準執行。
 
  6.外形尺寸:670×380×220mm
 
  7.儀器重量:約70kg
 
  四、三輪測試
 
  三輪測試儀根據Master 卡CQM項目對卡進行三輪測試,適用于對識別卡、帶觸點的集成電路卡進行三輪往復循環測試,將芯片卡放在機器測試滾輪之間,將芯片在三個鋼制滾輪間循環測試100次,芯片前方滾動50次,芯片后方滾動50次,循環頻率為0.5Hz,并在芯片上加一個10N的力,經過往復循環測試后驗證ICC觸點芯片功能是否正常。測試儀配有額外的一個15N砝碼用于進行CQM標準的測試。
 
  五、三輪壓力測試主要技術參數:
 
  1.型號:UHICC
 
  2.測試輪循環次數:前后循環各50次
 
  3.測試標準參考: Mcd
 
  4.CQM測試標準參考: P-22
 
  5.測試方法參考: 10.3.22
 
  6.CQM: 6.1.11-12.1.5.2 -16.1.18.2
 
  7.電源: 110-220 V 50/60 Hz.
 
  8.執行標準:GB/T 17554. 3-2006
 
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