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芯片三輪測試儀

更新時間:2023-01-11
廠商性質:生產廠家
訪問次數:1552

簡要描述:芯(xin)片三(san)輪測試(shi)儀(yi)三(san)輪測試(shi)儀(yi)適用于(yu)對識別卡、帶觸點(dian)的(de)集成(cheng)電路卡進行三(san)輪往復(fu)循(xun)環測試(shi)

  一、芯片三輪測試儀介紹:
 
  UHIC三輪測試儀根據Master 卡CQM項目對卡進行三輪測試,適用于對識別卡、帶觸點的集成電路卡進行三輪往復循環測試,將芯片卡放在機器測試滾輪之間,將芯片在三個鋼制滾輪間循環測試100次,芯片前方滾動50次,芯片后方滾動50次,循環頻率為0.5Hz,并在芯片上加一個8N的力,經過往復循環測試后驗證ICC觸點芯片功能是否正常。測試儀配有額外的一個15N砝碼用于進行CQM標準的測試。
 
  二、主要技術參數:
 
  1、三輪測試儀型號:UHICC
 
  2、測試輪循環次數:前后循環各50次
 
  3、測試標準參考: Mcd
 
  4、CQM測試標準參考: P-22
 
  5、測試方法參考: 10.3.22
 
  6、CQM: 6.1.11-12.1.5.2 -16.1.18.2
 
  7、電源: 110-220 V 50/60 Hz.
 
  8、測試廠家:

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